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應力雙折射檢測適用于多種透明材料,包括光學玻璃、塑料薄膜、半導體芯片以及陶瓷材料等,廣泛應用于材料科學研究、產品質量控制及制造工藝優化等多個領域。借助于專業的圖像處理軟件,不僅可以獲得具體的數值結果,還能生成直觀的應力分布圖譜,幫助研究人員更清晰地理解材料內部的力學行為。應力雙折...
自動測角儀(也叫自動角度測量儀或角度測量儀)是一種用于高精度測量角度的儀器,廣泛應用于機械加工、建筑、航空航天、汽車制造等領域。它能夠自動測量物體的角度,包括水平、垂直、傾斜等多種角度,并能提供非常精確的數據輸出。自動測角儀的主要優勢是能夠減少人為誤差,提高測量效率和精度。一、自動測角儀的使用方法準備工作:檢查設備:在使用前,首先檢查自動測角儀是否完好,確保沒有損壞。檢查電池或電源是否充足,確保儀器能夠正常工作。調整設備位置:確保測量平臺或儀器的支架水平放置,避免因設備放置不...
應力雙折射檢測是一種基于光學原理的非破壞性檢測技術,該技術的優勢之一在于其非侵入式的特性。與傳統的機械切割或其他物理測試方法不同,不會對被測物體造成任何損傷,非常適合于珍貴樣品或成品的質量監控。即使是微小的內部應力也能引起明顯的雙折射現象,因此該方法具有較高的靈敏度。同時,光學設備和算法確保了測量結果的高度準確性和重復性。應力雙折射檢測儀器的使用注意事項:1.清潔維護-在使用過程中,要輕擦儀器的相關部件,保持干凈,以免留有其他物質影響成像清晰度和測量精度。特別是折射棱鏡表面、...
Gentec-EO激光功率計的核心在于準確控制測量條件、規范操作流程以及定期維護校準。通過上述步驟和注意事項,可保證測量的準確性和設備壽命。1.準備工作:確保設備處于良好的工作環境,溫度為室溫(約25℃)。檢查儀器各部件是否完好,連接是否正常。初次使用時,需先測定0輸入對應的功率值作為校準基準。2.對準光路:將激光源發出的光束準確對準探頭的光輸入窗口。此時應調整光斑大小,使其占有效測量區域的40~80,以保證測量精度。例如,若探頭的有效感應面積較大,則需通過光學元件或機械裝置...
穆勒矩陣測量系統的定標是確保系統準確獲取光學信息的關鍵步驟,其核心在于通過已知光學特性的標準樣品,對系統參數進行精確調整與校準,以下為詳細介紹:一、定標原理穆勒矩陣是描述材料對偏振光變換作用的四維矩陣,每行對應入射偏振態,每列對應出射偏振態,16個元素共同構成材料的光學指紋。定標過程即通過標準樣品,確定系統各偏振參數(如補償器相位延遲量、起偏器和檢偏器方位角等),使系統能夠準確獲取樣品的穆勒矩陣。二、定標步驟準備標準樣品:選擇具有已知光學特性的標準樣品,如具有明確偏振特性的晶...
Gentec-EO激光功率計的核心在于熱效應探測器的使用。激光探頭表面涂有特殊的熱電材料作為吸收體,當激光照射時,大部分光能被該材料吸收并轉化為熱量,僅有少量反射。這種高吸收率的設計確保了測量的準確性基礎。吸收體兩端因受熱不均形成溫度梯度,進而在兩端之間產生電壓差。這一過程利用了塞貝克效應(Seebeckeffect),即不同溫度下的導體或半導體會產生電動勢的現象。產生的微弱電壓信號隨后由配套的電路進行放大和處理。內置的高精度測量電路負責接收這些模擬信號,并將其轉換為數字形式...
激光能量計能夠實現對激光能量的高精度測量,誤差范圍小。以微焦耳甚至更小量級為單位,準確量化激光輸出,這對于需要精密控制激光能量的科研和工業應用至關重要。例如在半導體芯片制造的光刻工藝中,細微的激光能量差異都可能影響芯片的圖案精度,可保障每次曝光的能量準確一致,提升產品良率。其測量量程很寬,既可以測量微弱的毫焦、微焦級別的激光能量,滿足光學通信、生物熒光檢測等低能量需求場景;又能應對高能量的激光,如工業激光切割、焊接中的千瓦級激光脈沖能量測量,一臺設備可覆蓋多種不同功率水平的激...